8 (812) 320-06-69

Каталог

Категории
Высшее образование (16+) (39691)
Высшее образование
Естественные науки (2579)
Естественные науки
Общественные науки (3174)
Общественные науки
Информатика и компьютерные технологии (4251)
Информатика и компьютерные технологии
Инженерное дело (1406)
Инженерное дело
Телекоммуникации, электроника, электротехника и радиотехника (1359)
Телекоммуникации, электроника, электротехника и радиотехника
Строительство. Архитектура (634)
Строительство. Архитектура
Строительство. Архитектура. Журналы (17)
Строительство. Архитектура. Журналы
Бетон и железобетон (3)
Бетон и железобетон
Жилищное строительство (7)
Жилищное строительство
Строительные материалы (7)
Строительные материалы
Юридические науки.Право (4330)
Юридические науки.Право
Отрасли права (2770)
Отрасли права
Гуманитарные науки (6028)
Гуманитарные науки
Экономика. Экономические науки (6614)
Экономика. Экономические науки
Образование. Педагогические науки (3346)
Образование. Педагогические науки
Медицина и здравоохранение (953)
Медицина и здравоохранение
Физическая культура и спорт (474)
Физическая культура и спорт
Среднее профессиональное образование (14+) (2810)
Среднее профессиональное образование
Коллекции (43401)
Коллекции
Издательские коллекции (42978)
Издательские коллекции
Журналы (999)
Журналы
Остаться в выбранном разделе
Назад к каталогу

LabVIEW: практикум по основам измерительных технологий

LabVIEW: практикум по основам измерительных технологий ISBN 978-5-94074-498-6
ISBN 978-5-94074-498-6
Авторы: 
Батоврин В.К., Бессонов А.С., Мошкин В.В., Папуловский В.Ф.
Тип издания: 
Учебное пособие
Издательство: 
Москва: ДМК Пресс
Год: 
2009
Количество страниц: 
232
Аннотация

Учебное пособие содержит практикум по основам измерительных технологий, в котором представлены работы по методам обработки и оценки погрешностей результатов измерений, поверке средств измерений и методам и средствам измерения электрических и неэлектрических величин. Все работы практикума выполняются с компьютерными моделями, реализованными в среде LabVIEW. Учебное пособие предназначено для студентов технических вузов, обучающихся по направлениям: «Приборостроение», «Информационные системы», «Автоматика и управление», «Информатика и вычислительная техника», изучающих курсы «Метрология, стандартизация и сертификация», «Теоретические основы измерительных и информационных технологий», «Методы и средства измерений» и смежные дисциплины. Практикум может использоваться как при традиционной организации учебного процесса, так и при ориентации на компьютерные обучающие системы, включая систему дистанционного образования

Библиографическое описание Скопировать библиографическое описание

Батоврин В.К. LabVIEW: практикум по основам измерительных технологий / В.К. Батоврин, А.С. Бессонов, В.В. Мошкин, В.Ф. Папуловский. - Москва : ДМК Пресс, 2009. - 232 с. - ISBN 978-5-94074-498-6. - URL: https://ibooks.ru/bookshelf/22469/reading (дата обращения: 18.04.2024). - Текст: электронный.